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300mm TEST
45nm≤50EA, DSP -
0.3㎛≤10EA, SSP">150mm(6") Si Wafer
0.3㎛≤10EA, SSP -
0.3um ≤10EA, SSP">100mm(4") Si Wafer
0.3um ≤10EA, SSP -
300mm FOSB (used) -
THK 675, SSP">150mm(6") Si Wafer
THK 675, SSP -
THK 625, SSP">150mm(6") Si Wafer
THK 625, SSP -
0.3um ≤50EA, SSP">100mm(4") Si Wafer
0.3um ≤50EA, SSP -
300mm DUMMY
160nm≤150EA, DSP -
300mm TEST
200nm≤50EA, DSP -
300mm TEST
200nm≤30EA, DSP -
300mm TEST
120nm≤80EA, N TYPE -
300mm TEST
120nm≤80EA, N TYPE -
300mm TEST
200nm≤50EA, DSP -
300mm TEST
200nm≤30EA, DSP -
300mm TEST
120nm≤100EA, DSP -
300mm TEST
120nm≤800EA, DSP -
300mm TEST
120nm≤800EA, DSP -
300mm TEST
50nm ≤ 50EA, DSP -
200mm Scrap
SSP 700㎛ -
300mm Scrap
DSP 750㎛ -
300mm Dummy
120nm≤400EA -
300mm Dummy
160nm≤150EA -
300mm Prime
50nm ≤30EA, DSP
